Elektronikkomponenten von Gabelstaplern auf dem Prüfstand - Untersuchungen zur Schädigung unter Laborbedingungen
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Zeitschriften/Aufsätze |
Jahr | 2012 |
Autoren | Weigelt, S. ; Overmeyer, L. ; Müller, T. ; Schmidt, T. |
Veröffentlicht in | Hebezeuge Fördermittel. München: HUSS-MEDIEN GmbH (2012), S. 388 - 390 - ISSN 0017-9442 |
Beschreibung
Die besonderen Belastungen, denen Elektronikkomponenten von Flurförderzeugen aufgrund ihrer Einsatzbedingungen und konstruktiven Merkmale ausgesetzt sind, wurden im ersten Teil des Forschungspro jekts DEKomp (Dimensionierung elektronischer Komponenten) unter wissenschaftlichen Aspekten bereits näher betrachtet (s. a. [1]). Um das Schädigungsverhalten konkret zu ermitteln, wurden im zweiten Teil des Projekts die an einem Schub maststapler aufgenommenen me chanischen und elektrischen Beanspruchungen unter Labor bedingun gen nachgestellt.