Institut für Transport- und Automatisierungstechnik Forschung Publikationen
Elektronikkomponenten von Gabelstaplern auf dem Prüfstand - Untersuchungen zur Schädigung unter Laborbedingungen

Elektronikkomponenten von Gabelstaplern auf dem Prüfstand - Untersuchungen zur Schädigung unter Laborbedingungen

Kategorien Zeitschriften/Aufsätze
Jahr 2012
Autoren Weigelt, S. ; Overmeyer, L. ; Müller, T. ; Schmidt, T.
Veröffentlicht in Hebezeuge Fördermittel. München: HUSS-MEDIEN GmbH (2012), S. 388 - 390 - ISSN 0017-9442
Beschreibung

Die besonderen Belastungen, denen Elektronikkomponenten von Flurförderzeugen aufgrund ihrer Einsatzbedingungen und konstruktiven Merkmale ausgesetzt sind, wurden im ersten Teil des Forschungspro jekts DEKomp (Dimensionierung elektronischer Komponenten) unter wissenschaftlichen Aspekten bereits näher betrachtet (s. a. [1]). Um das Schädigungsverhalten  konkret zu ermitteln, wurden im zweiten Teil des Projekts die an einem Schub maststapler aufgenommenen me chanischen und elektrischen Beanspruchungen unter Labor bedingun gen nachgestellt.