Institute of Transport and Automation Technology Research Publications
Elektronikkomponenten von Gabelstaplern auf dem Prüfstand - Untersuchungen zur Schädigung unter Laborbedingungen

Elektronikkomponenten von Gabelstaplern auf dem Prüfstand - Untersuchungen zur Schädigung unter Laborbedingungen

Categories Zeitschriften/Aufsätze
Year 2012
Authors Weigelt, S. ; Overmeyer, L. ; Müller, T. ; Schmidt, T.
Published in Hebezeuge Fördermittel. München: HUSS-MEDIEN GmbH (2012), S. 388 - 390 - ISSN 0017-9442
Description

Die besonderen Belastungen, denen Elektronikkomponenten von Flurförderzeugen aufgrund ihrer Einsatzbedingungen und konstruktiven Merkmale ausgesetzt sind, wurden im ersten Teil des Forschungspro jekts DEKomp (Dimensionierung elektronischer Komponenten) unter wissenschaftlichen Aspekten bereits näher betrachtet (s. a. [1]). Um das Schädigungsverhalten  konkret zu ermitteln, wurden im zweiten Teil des Projekts die an einem Schub maststapler aufgenommenen me chanischen und elektrischen Beanspruchungen unter Labor bedingun gen nachgestellt.